Piovesan, T., Sartori, H. C., Bender, V. C., & Pinheiro, J. R. (2021). Método para Quantificação de Perdas em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido aos Elementos Parasitas da Placa de Circuito Impresso. Eletrônica de Potência, 26(1), 42-52. https://doi.org/10.18618/REP.2021.1.0040
Citace podle Chicago (17th ed.)Piovesan, Tális, Hamiltom Confortim Sartori, Vitor Cristiano Bender, a José Renes Pinheiro. "Método Para Quantificação De Perdas Em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido Aos Elementos Parasitas Da Placa De Circuito Impresso." Eletrônica De Potência 26, no. 1 (2021): 42-52. https://doi.org/10.18618/REP.2021.1.0040.
Citace podle MLA (9th ed.)Piovesan, Tális, et al. "Método Para Quantificação De Perdas Em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido Aos Elementos Parasitas Da Placa De Circuito Impresso." Eletrônica De Potência, vol. 26, no. 1, 2021, pp. 42-52, https://doi.org/10.18618/REP.2021.1.0040.