Model-free approach to finding index of refraction values of optical coatings from spectral measurements
Mathematical models for fitting the refractive index versus the wavelength, such as the Cauchy, Sellmeier, and Drude equations, or physical models, such as the Lorentz model, are commonly used to fit the index properties of measured spectra of optical thin film witness samples for use in the design...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Applied optics. Optical technology and biomedical optics Ročník 62; číslo 28; s. 7362 |
|---|---|
| Hlavní autor: | |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
01.10.2023
|
| ISSN: | 1559-128X, 1539-4522 |
| On-line přístup: | Zjistit podrobnosti o přístupu |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!