Call for Papers: Special Issue on AI, Machine Learning, and Deep Learning: Advances and Applications for EMC
Uložené v:
| Vydané v: | IEEE transactions on electromagnetic compatibility Ročník 65; číslo 6; s. 1939 - 1940 |
|---|---|
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
New York
IEEE
01.12.2023
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE) |
| Predmet: | |
| ISSN: | 0018-9375, 1558-187X |
| On-line prístup: | Získať plný text |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!