X‐Ray Photoelectron Spectroscopy Investigations of the Surface Reaction Layer and its Effects on the Transformation Properties of Nanoscale Ti 51 Ni 38 Cu 11 Shape Memory Thin Films

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	Advanced engineering materials Ročník 17; číslo 5; s. 669 - 673
Hlavní autoři:	König, Dennis, Naujoks, Dennis, de los Arcos, Teresa, Grosse‐Kreul, Simon, Ludwig, Alfred
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	01.05.2015
ISSN:	1438-1656, 1527-2648
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Popis
ISSN:	1438-1656 1527-2648
DOI:	10.1002/adem.201400317