X‐Ray Photoelectron Spectroscopy Investigations of the Surface Reaction Layer and its Effects on the Transformation Properties of Nanoscale Ti 51 Ni 38 Cu 11 Shape Memory Thin Films

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Advanced engineering materials Ročník 17; číslo 5; s. 669 - 673
Hlavní autori: König, Dennis, Naujoks, Dennis, de los Arcos, Teresa, Grosse‐Kreul, Simon, Ludwig, Alfred
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: 01.05.2015
ISSN:1438-1656, 1527-2648
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Popis
ISSN:1438-1656
1527-2648
DOI:10.1002/adem.201400317