Оцінка якості технічних і метрологічних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання

Розглядаються можливості отримання оцінок якості і прогнозування основних технічних і метрологі-чних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання. В роботі запропоновано розгляд одномірної інформаційно-вимірювальної системи, коли вимірювана вел...

Celý popis

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Vydané v:	Zbirnyk naukovykh prat͡s︡ʹ Kharkivsʹkoho universytetu Povitri͡a︡nykh Syl Ročník 4(58); číslo 4(58); s. 101 - 107
Hlavní autori:	Хижняк, В.В., Литовченко, А.О., Дмитрієв, А.Г.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	English
Vydavateľské údaje:	Ivan Kozhedub Kharkiv National Air Force University 30.11.2018
Predmet:	випадкові процеси ймовірнісні моделі метрологічні характеристики інформаційно-вимірювальні системи
ISSN:	2073-7378, 2518-1661
On-line prístup:	Získať plný text
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Popis
Shrnutí:	Розглядаються можливості отримання оцінок якості і прогнозування основних технічних і метрологі-чних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання. В роботі запропоновано розгляд одномірної інформаційно-вимірювальної системи, коли вимірювана величина та фактори, що впливають на результат вимірювання, є безперервними випадковими величинами. Визначений спектр критеріїв та показників ефективності інформаційно-вимірювальної системи з необхідним рівнем деталізації ймовірнісних моделей.
ISSN:	2073-7378 2518-1661
DOI:	10.30748/zhups.2018.58.14