Оцінка якості технічних і метрологічних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання

Розглядаються можливості отримання оцінок якості і прогнозування основних технічних і метрологі-чних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання. В роботі запропоновано розгляд одномірної інформаційно-вимірювальної системи, коли вимірювана вел...

Full description

Saved in:

Bibliographic Details
Published in:	Zbirnyk naukovykh prat͡s︡ʹ Kharkivsʹkoho universytetu Povitri͡a︡nykh Syl Vol. 4(58); no. 4(58); pp. 101 - 107
Main Authors:	Хижняк, В.В., Литовченко, А.О., Дмитрієв, А.Г.
Format:	Journal Article
Language:	English
Published:	Ivan Kozhedub Kharkiv National Air Force University 30.11.2018
Subjects:	випадкові процеси ймовірнісні моделі метрологічні характеристики інформаційно-вимірювальні системи
ISSN:	2073-7378, 2518-1661
Online Access:	Get full text
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

Description
Summary:	Розглядаються можливості отримання оцінок якості і прогнозування основних технічних і метрологі-чних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання. В роботі запропоновано розгляд одномірної інформаційно-вимірювальної системи, коли вимірювана величина та фактори, що впливають на результат вимірювання, є безперервними випадковими величинами. Визначений спектр критеріїв та показників ефективності інформаційно-вимірювальної системи з необхідним рівнем деталізації ймовірнісних моделей.
ISSN:	2073-7378 2518-1661
DOI:	10.30748/zhups.2018.58.14