Оцінка якості технічних і метрологічних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання

Розглядаються можливості отримання оцінок якості і прогнозування основних технічних і метрологі-чних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання. В роботі запропоновано розгляд одномірної інформаційно-вимірювальної системи, коли вимірювана вел...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Zbirnyk naukovykh prat͡s︡ʹ Kharkivsʹkoho universytetu Povitri͡a︡nykh Syl Ročník 4(58); číslo 4(58); s. 101 - 107
Hlavní autoři:	Хижняк, В.В., Литовченко, А.О., Дмитрієв, А.Г.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Ivan Kozhedub Kharkiv National Air Force University 30.11.2018
Témata:	випадкові процеси ймовірнісні моделі метрологічні характеристики інформаційно-вимірювальні системи
ISSN:	2073-7378, 2518-1661
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!