Оцінка якості технічних і метрологічних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання - Хижняк, В.В.; Литовченко, А.О.; Дмитрієв, А.Г. (Zbirnyk naukovykh prat͡s︡ʹ Kharkivsʹkoho universytetu Povitri͡a︡nykh Syl, 2018)
Розглядаються можливості отримання оцінок якості і прогнозування основних технічних і метрологі-чних характеристик аналітичних ймовірнісних інформаційно-вимірювальних систем за результатами моделювання. В роботі запропоновано розгляд одномірної інформаційно-вимірювальної системи, коли вимірювана величина та фактори, що впливають на результат вимірювання, є безперервними випадковими величинами. Визначений спектр критеріїв та показників ефективності інформаційно-вимірювальної системи з необхідним рівнем деталізації ймовірнісних моделей.