An empirical study of the effects of test-suite reduction on fault localization

Fault-localization techniques that utilize information about all test cases in a test suite have been presented. These techniques use various approaches to identify the likely faulty part(s) of a program, based on information about the execution of the program with the test suite. Researchers have b...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:2008 ACM/IEEE 30th International Conference on Software Engineering Ročník 2008; číslo 24; s. 201 - 210
Hlavní autori: Yanbing Yu, Jones, J.A., Harrold, M.J.
Médium: Konferenčný príspevok.. Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: IEEE 01.01.2008
Predmet:
ISBN:1424444861, 9781424444861, 1605580791, 9781605580791
ISSN:0270-5257
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.