The reach profiler (REAPER): Enabling the mitigation of DRAM retention failures via profiling at aggressive conditions

Modern DRAM-based systems suffer from significant energy and latency penalties due to conservative DRAM refresh standards. Volatile DRAM cells can retain information across a wide distribution of times ranging from milliseconds to many minutes, but each cell is currently refreshed every 64ms to acco...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	2017 ACM/IEEE 44th Annual International Symposium on Computer Architecture (ISCA) s. 255 - 268
Hlavní autoři:	Patel, Minesh, Kim, Jeremie S., Mutlu, Onur
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	ACM 01.06.2017
Témata:	Capacitors DRAM DRAM chips Force Measurement memory refresh Reliability retention failures Runtime testing
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!