DIALED: Data Integrity Attestation for Low-end Embedded Devices
Verifying integrity of software execution in low-end microcontroller units (MCUs) is a well-known open problem. The central challenge is how to securely detect software exploits with minimal overhead, since these MCUs are designed for low cost, low energy and small size. Some recent work yielded ine...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | 2021 58th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) S. 313 - 318 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Tagungsbericht |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
IEEE
05.12.2021
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!