Mutation-based Fault Localization of Deep Neural Networks

Deep neural networks (DNNs) are susceptible to bugs, just like other types of software systems. A significant uptick in using DNN, and its applications in wide-ranging areas, including safety-critical systems, warrant extensive research on software engineering tools for improving the reliability of...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering : [proceedings] s. 1301 - 1313
Hlavní autoři:	Ghanbari, Ali, Thomas, Deepak-George, Arshad, Muhammad Arbab, Rajan, Hridesh
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 11.09.2023
Témata:	Artificial neural networks Benchmark testing Computer bugs Data models Deep Neural Network Fault Localization Location awareness Mutation Reliability engineering Software systems
ISSN:	2643-1572
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!