EM attack sensor: Concept, circuit, and design-automation methodology

A side-channel attack exploiting EM-field leakage from a cryptographic processor IC is an existing serious threat to our information society. EM radiation during the IC operation is captured by an EM probe and the correlation to the crypto processing is statistically analyzed to reveal the secret in...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Proceedings - ACM IEEE Design Automation Conference s. 1 - 6
Hlavní autoři:	Miura, Noriyuki, Fujimoto, Daisuke, Nagata, Makoto, Homma, Naofumi, Hayashi, Yuichi, Aoki, Takafumi
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 01.06.2015
Témata:	Calibration Cryptography Frequency measurement Hardware Layout Oscillators Probes
ISSN:	0738-100X
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!