Directed-Logical Testing for Functional Verification of Microprocessors

The length of the microprocessor development cycle is largely determined by functional verification, where contemporary practice relies primarily on constraint-based random stimulus generation to drive a simulation-based methodology. However, formal methods are, in particular, gaining wider adoption...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:2008 6th IEEE/ACM International Conference on Formal Methods and Models for Codesign s. 89 - 100
Hlavní autoři: Katelman, M., Meseguer, J., Escobar, S.
Médium: Konferenční příspěvek
Jazyk:angličtina
Vydáno: Washington, DC, USA IEEE Computer Society 01.06.2008
IEEE
Edice:ACM Conferences
Témata:
ISBN:1424424178, 9781424424177
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.