RFUZZ: Coverage-Directed Fuzz Testing of RTL on FPGAs

Dynamic verification is widely used to increase confidence in the correctness of RTL circuits during the pre-silicon design phase. Despite numerous attempts over the last decades to automate the stimuli generation based on coverage feedback, Coverage Directed Test Generation (CDG) has not found the...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	2018 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) s. 1 - 8
Hlavní autoři:	Laeufer, Kevin, Koenig, Jack, Kim, Donggyu, Bachrach, Jonathan, Sen, Koushik
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	ACM 01.11.2018
Témata:	Engines Field programmable gate arrays Fuzzing Instruments Integrated circuit modeling Software
ISSN:	1558-2434
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!