RFUZZ: Coverage-Directed Fuzz Testing of RTL on FPGAs

Dynamic verification is widely used to increase confidence in the correctness of RTL circuits during the pre-silicon design phase. Despite numerous attempts over the last decades to automate the stimuli generation based on coverage feedback, Coverage Directed Test Generation (CDG) has not found the...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:2018 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) S. 1 - 8
Hauptverfasser: Laeufer, Kevin, Koenig, Jack, Kim, Donggyu, Bachrach, Jonathan, Sen, Koushik
Format: Tagungsbericht
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: ACM 01.11.2018
Schlagworte:
ISSN:1558-2434
Online-Zugang:Volltext
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