Impact of nanomanufacturing flow on systematic yield losses in nanoscale fabrics

Reliable and scalable manufacturing of nanofabrics entails significant challenges. Scalable nanomanufacturing approaches that employ the use of lithographic masks in conjunction with nanofabrication based on self-assembly have been proposed. A bottom-up fabrication of nanoelectronic circuits is expe...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	2011 IEEE/ACM International Symposium on Nanoscale Architectures s. 181 - 188
Hlavní autoři:	Vijayakumar, Priyamvada, Narayanan, Pritish, Koren, Israel, Mani Krishna, C., Moritz, Csaba Andras
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Washington, DC, USA IEEE Computer Society 08.06.2011 IEEE
Edice:	ACM Conferences
Témata:	Applied computing > Enterprise computing Applied computing > Operations research > Industry and manufacturing Applied computing > Physical sciences and engineering > Electronics CMOS integrated circuits Fabrics Manufacturing mask alignment mask offset Metals Nanoscale devices Nanowires overlay Systematics yield
ISBN:	1457709937, 9781457709937
ISSN:	2327-8218
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!