Out-of-order parallel simulation for ESL design

At the Electronic System Level (ESL), design validation often relies on discrete event (DE) simulation. Recently, parallel simulators have been proposed which increase simulation speed by using multiple cores available on today's PCs. However, the total order of time in DE simulation is a bottl...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe s. 141 - 146
Hlavní autoři: Chen, Weiwei, Han, Xu, Dömer, Rainer
Médium: Konferenční příspěvek
Jazyk:angličtina
Vydáno: San Jose, CA, USA EDA Consortium 12.03.2012
Edice:ACM Conferences
Témata:
ISBN:3981080181, 9783981080186
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.