Combining deterministic and genetic approaches for sequential circuit test generation

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Proceedings of the 32nd annual ACM/IEEE Design Automation Conference s. 183 - 188
Hlavní autori: Rudnick, Elizabeth M., Patel, Janak H.
Médium: Konferenčný príspevok..
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: New York, NY, USA ACM 01.01.1995
Edícia:ACM Conferences
Predmet:
Hardware > Hardware test > Test-pattern generation and fault simulation
Hardware > Integrated circuits > Logic circuits > Sequential circuits
ISBN:0897917251, 9780897917254
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Popis
Bibliografia:SourceType-Conference Papers & Proceedings-1
ObjectType-Conference Paper-1
content type line 25
ISBN:0897917251
9780897917254
DOI:10.1145/217474.217527