Combining deterministic and genetic approaches for sequential circuit test generation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Proceedings of the 32nd annual ACM/IEEE Design Automation Conference S. 183 - 188
Hauptverfasser: Rudnick, Elizabeth M., Patel, Janak H.
Format: Tagungsbericht
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York, NY, USA ACM 01.01.1995
Schriftenreihe:ACM Conferences
Schlagworte:
Hardware > Hardware test > Test-pattern generation and fault simulation
Hardware > Integrated circuits > Logic circuits > Sequential circuits
ISBN:0897917251, 9780897917254
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Bibliographie:SourceType-Conference Papers & Proceedings-1
ObjectType-Conference Paper-1
content type line 25
ISBN:0897917251
9780897917254
DOI:10.1145/217474.217527