A Systematic Methodology to Compute the Architectural Vulnerability Factors for a High-Performance Microprocessor

Single-event upsets from particle strikes have become akey challenge in microprocessor design. Techniques todeal with these transient faults exist, but come at a cost.Designers clearly require accurate estimates of processorerror rates to make appropriate cost/reliability trade-offs.This paper descr...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	36th Annual International Symposium on Microarchitecture (MICRO-36 2003) s. 29
Hlavní autoři:	Mukherjee, Shubhendu S., Weaver, Christopher, Emer, Joel, Reinhardt, Steven K., Austin, Todd
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Washington, DC, USA IEEE Computer Society 03.12.2003
Edice:	ACM Conferences
Témata:	Hardware > Hardware validation Hardware > Integrated circuits Hardware > Integrated circuits > Interconnect > Input > output circuits Hardware > Very large scale integration design > Application-specific VLSI designs > Application specific processors
ISBN:	076952043X, 9780769520438
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!