Location is Key: Leveraging LLM for Functional Bug Localization in Verilog Design
In Verilog code design, identifying and locating functional bugs is an important yet challenging task. Existing automatic bug localization methods have limited capabilities; they only suggest a set of potential buggy lines rather than precisely identifying the bug. Moreover, they depend on verificat...
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| Veröffentlicht in: | 2025 62nd ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) S. 1 - 7 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , |
| Format: | Tagungsbericht |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
IEEE
22.06.2025
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
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