Location is Key: Leveraging LLM for Functional Bug Localization in Verilog Design

In Verilog code design, identifying and locating functional bugs is an important yet challenging task. Existing automatic bug localization methods have limited capabilities; they only suggest a set of potential buggy lines rather than precisely identifying the bug. Moreover, they depend on verificat...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:2025 62nd ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) S. 1 - 7
Hauptverfasser: Yao, Bingkun, Wang, Ning, Zhou, Jie, Wang, Xi, Gao, Hong, Jiang, Zhe, Guan, Nan
Format: Tagungsbericht
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: IEEE 22.06.2025
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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