Delving into Topology Representation for Layout Pattern: A Novel Contrastive Learning Framework for Hotspot Detection

Recently, machine learning-based techniques have been applied for layout hotspot detection. However, existing methods encounter challenges in capturing the decision boundary across the entire dataset and ignore the geometric properties and topology of the polygons. In this paper, we introduce CLI-HD...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	2025 62nd ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) s. 1 - 6
Hlavní autoři:	Chen, Silin, Di, Kangjian, Wang, Guohao, Zhao, Wenzheng, Du, Li, Zou, Ningmu
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 22.06.2025
Témata:	Accuracy Contrastive learning Distance measurement Layout Shape Topology Training Transformers Vectors
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!