Výsledky vyhledávání - "IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence"

Upřesnit hledání
  1. 1
    Obálka

    Proceedings : IEEE Workshop on Omnidirectional Vision, June 12, 2000, Hilton Head Island, South Carolina Autor IEEE Workshop on Omnidirectional Vision, IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence

    ISBN: 9780769507057, 0769507050, 9780769507040, 0769507042
    Vydáno: Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society Press 2000
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  2. 2
    Obálka

    Proceedings : 2003 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition : 18-20 June 2003, Madison, Wisconsin Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 0769519008, 9780769519005
    Vydáno: Los Alamitos ; Tokyo IEEE Computer Society 2003
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  3. 3
    Obálka

    Proceedings : IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, Hilton Head Island, South Carolina, June 13-15, 2000 Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 9780769506623, 0780365275, 0769506623, 9780780365278
    Vydáno: Los Alamitos IEEE Computer Society Press 2000
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  4. 4
    Obálka

    Proceedings : 1998 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, June 23-25, 1998, Santa Barbara, California Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 0818684976, 9780818684975, 9780780350632, 0780350634
    Vydáno: Los Alamitos ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1998
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  5. 5
    Obálka

    Proceedings : 1997 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, June 17-19, 1997, San Juan, Puerto Rico Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 9780818678226, 9780780342361, 0818678224, 0780342364
    Vydáno: Los Alamitos ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1997
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  6. 6
    Obálka

    CVPR '92 : Proceedings : 1992 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, June 15-18, 1992, Champaign, Illinois Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 9780818628566, 0818628553, 9780818628559, 9780818628573, 081862857X, 0818628561
    Vydáno: Washington, D.C. ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1992
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  7. 7
    Obálka

    Proceedings : 1999 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, June 23-25, 1999, Fort Collins, Colorado Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 078035771X, 9780769501512, 0769501494, 9780769501499, 0769501516, 9780780357716
    Vydáno: Los Alamitos ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1999
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  8. 8
    Obálka

    Proceedings : 1996 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, June 18-20, 1996, San Francisco, California Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 9780818672590, 9780818672606, 0818672587, 0818672609, 9780818672583, 0818672595
    Vydáno: Los Alamitos ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1996
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  9. 9
    Obálka

    Proceedings : 1994 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, June 21-23, 1994, Seattle, Washington Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 9780818658273, 9780818658259, 0818658274, 0818658258, 0818658266, 9780818658266
    Vydáno: Los Alamitos ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1994
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  10. 10
    Obálka

    CVPR '93 : proceedings : 1993 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, June 15-18, 1993, New York City, New York Autor IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 9780818638824, 0818638818, 0818638826, 9780818638817, 081863880X, 9780818638800
    Vydáno: Washington, D.C. ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1993
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  11. 11
    Obálka

    Proceedings : Fourth International Conference on Computer Vision, May 11-14, 1993, Berlin, Germany Autor International Conference on Computer Vision, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis, Gesellschaft für Informatik

    ISBN: 0818638729, 0818638710, 9780818638725, 9780818638718, 9780818638701, 0818638702
    Vydáno: Los Alamitos, Calif. ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1993
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  12. 12
    Obálka

    Proceedings : International symposium on computer vision : Coral Gables, Florida, November 21-23, 1995 Autor IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence

    ISBN: 9780818671913, 0818671904, 9780818671906, 0818671912
    Vydáno: Los Alamitos, Calif. ; Tokyo IEEE Computer Society Press 1995
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  13. 13
    Obálka

    IEEE workshop on stereo and multi-baseline vision (SMBV 2001) : proceedings : 9-10 December 2001 Kauai, Hawaii Autor IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Intel Corporation, Point Grey Research

    ISBN: 0769513271, 076951328X, 9780769513287, 9780769513270
    Vydáno: Los Alamitos ; Tokyo IEEE Computer Society 2001
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  14. 14
    Obálka

    Proceedings : the Tenth Conference on Artificial Intelligence for Applications, March 1-4, 1994, San Antonio, Texas Autor Conference on Artificial Intelligence Applications, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 0818655518, 9780818655524, 9780818655500, 081865550X, 9780818655517, 0818655526
    Vydáno: Los Alamitos, Ca IEEE Computer Society Press 1994
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  15. 15
    Obálka

    Proceedings : eighth IEEE International Conference on Computer Vision, July 7-14, 2001, Vancouver, British Columbia, Canada Autor International Conference on Computer Vision, IEEE Computer Society. Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis

    ISBN: 0769511430, 0769511449, 9780769511436, 9780769511450, 0769511457, 9780769511443
    Vydáno: Los Alamitos, Calif. ; Tokyo IEEE Computer Society 2001
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  16. 16
    Obálka

    Proceedings : International Workshop on Neural Networks for Identification, Control, Robotics, and Signal/Image Processing, Venice, Italy, August 21-23, 1996 Autor International Workshop on Neural Networks for Identification, Control, Robotics, and Signal/Image Processing (1996 : Venice, Italy), IEEE Computer Society, IEEE Circuits and Systems Society, IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Control Systems Society, SIGART

    ISBN: 0818674563, 9780818674563
    Vydáno: Los Alamitos, CA IEEE Computer Society Press 1996
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  17. 17
    Obálka

    Proceedings, 2002 IEEE International Conference on Data Mining, ICDM 2002, 9-12 December 2002, Maebashi City, Japan Autor IEEE International Conference on Data Mining, Kumar, Vipin, IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Computer Society. Technical Committee on Computational Intelligence

    ISBN: 9780769517544, 0769517544
    Vydáno: Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society 2002
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  18. 18
    Obálka

    Proceedings, 2001 IEEE International Conference on Data Mining, 29 November-2 December 2001, San Jose, California Autor IEEE International Conference on Data Mining, IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Conputer Society Task Force on Virtual Intelligence, Insightful Corppration, Cercone, Nick, Lin, T. Y., Wu, Xindong

    ISBN: 9780769511191, 0769511198
    Vydáno: Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society 2001
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  19. 19
    Obálka

    Proceedings, Fourth IEEE International Conference on Data Mining, ICDM 2004, 1-4 November 2004, Brighton, United Kingdom Autor IEEE International Conference on Data Mining, Rastogi, Rajeev, Morik, Katharina, Bramer, Max, Wu, Xindong, IEEE Computer Society. Technical Committee on Computational Intelligence, IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence

    ISBN: 0769521428, 9780769521428
    Vydáno: Los Alamitos, Calif. ; Tokyo IEEE Computer Society 2004
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  20. 20
    Obálka

    Proceedings : IEEE Workshop on Multi-View Modeling & Analysis of Visual Scenes : June 26, 1999 Fort Collins, Colorado Autor IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence

    ISBN: 0769501109, 9780769501109
    Vydáno: Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society 1999
    Získat plný text
    Kniha
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:

Vyhledávací nástroje: