Výsledky vyhľadávania - Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis (SPICE)-based multiphysics
-
1
Simulation, Verification, and Failure Analysis of Fast Recovery Diodes for the Surge Current Capability
Vydavateľské údaje: IEEE 03.12.2024Vydané v 2024 IEEE 26th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) (03.12.2024)“…), Finite Element Method (FEM), and SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis…”
Získať plný text
Konferenčný príspevok..