Shallow impurity centers in semiconductors : 4th IUPAP-ICTP semiconductor symp., Trieste, Italy, 28 July - 1 August 1986 /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kohn, Walter
Körperschaft: 4th IUPAP-ICTP semiconductor symp. Italy, Trieste
Weitere Verfasser: Baldereschi, A. (HerausgeberIn), Resta, R.
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Amsterdam : North-Holland Publishing, 1987
Ausgabe:[1st ed.]
Schlagworte:
spektroskopia > fotoluminiscencia > elektrónová rezonancia > germánium > silikón > donor
ISBN:0444870873
Online-Zugang: Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617194027.0
008 980705s1987 ne e ||||||eng d
020 |a 0444870873 
035 |a CVTIDW0946254 
040 |b slo  |a CVTI SR  |e AACR2 
041 0 |a eng 
044 |a ne 
080 |a 53  |2 UDC-MRF 
080 |a 621.3  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Kohn, Walter 
111 0 |a 4th IUPAP-ICTP semiconductor symp.  |d (28 July - 1 August 1986 :  |c Italy, Trieste) 
242 1 0 |a Centrá prímesí v polovodičoch. Prednášky z 2. medzinárodnej konferencie a 4. sympózia IUPAP-ICTP o polovodičoch v Terste 
245 1 0 |a Shallow impurity centers in semiconductors :  |b 4th IUPAP-ICTP semiconductor symp., Trieste, Italy, 28 July - 1 August 1986 /  |c Walter Kohn and Co. ; Red.: A. Baldereschi, R. Resta 
250 |a [1st ed.] 
260 |a Amsterdam :  |b North-Holland Publishing,  |c 1987 
300 |a XII, 305 s. :  |b grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a spektroskopia  |a fotoluminiscencia  |a elektrónová rezonancia  |a germánium  |a silikón  |a donor 
692 |a GM OR PO MM 
700 1 |a Baldereschi, A.  |4 edt 
700 1 |a Resta, R. 
910 |b A564462 
919 |a 0-444-87087-3 
974 |f Knihy 
992 |a AZN 
999 |c 99718  |d 99718 

Ähnliche Einträge