Defects in silicon : Proceedings of symp. B on science and technology of the 1989 E-MRS conf., Strasbourg, France, 30 May - 2 June 1989 /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Chantre, A.
Körperschaft: Proceedings of symp. B on science and technology of the 1989 E-MRS conf. France, Strasbourg
Weitere Verfasser: Ammerlaan, C. A. J. (HerausgeberIn), Wagner, P.
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Amsterdam : North-Holland Publishing, 1989
Ausgabe:[1st ed.]
Schriftenreihe:European Materials Research Society symposia proceedings Vol. 9
Schlagworte:
ISBN:0444886192
Online-Zugang: Volltext
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