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Optical characterization of epitaxial semiconductor layers /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Bauer, Günther
Weitere Verfasser:	Richter, Wolfgang
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Berlin : Springer, 1996
Ausgabe:	[1st ed.]
Schlagworte:	spektroskopická elipsometria > Ramanova spektroskopia
ISBN:	354059129X
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