Optical characterization of epitaxial semiconductor layers /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Berlin :
Springer,
1996
|
| Vydání: | [1st ed.] |
| Témata: | |
| ISBN: | 354059129X |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 003 | SK-BrCVT | ||
| 005 | 20220617191042.0 | ||
| 008 | 971104s1996 gw e ||||||eng d | ||
| 020 | |a 354059129X | ||
| 035 | |a CVTIDW0942316 | ||
| 040 | |b slo |a CVTI SR | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 044 | |a gw | ||
| 080 | |a 621.382:543.42 |2 UDC-MRF | ||
| 100 | 1 | |a Bauer, Günther | |
| 242 | 1 | 0 | |a Optická charakterizácia epitaxných polovodičových vrstiev |
| 245 | 1 | 0 | |a Optical characterization of epitaxial semiconductor layers / |c Authors: Günther Bauer, Wolfgang Richter and Co. |
| 250 | |a [1st ed.] | ||
| 260 | |a Berlin : |b Springer, |c 1996 | ||
| 300 | |a XIV, 429 s. : |b grafy, lit., obr., tab. ; | ||
| 653 | 1 | |a spektroskopická elipsometria |a Ramanova spektroskopia | |
| 692 | |a VD PR PO MM | ||
| 700 | 1 | |a Richter, Wolfgang | |
| 910 | |b A559097 | ||
| 919 | |a 3-540-59129-X | ||
| 974 | |f Knihy | ||
| 992 | |a AZN | ||
| 999 | |c 91468 |d 91468 | ||