Hendriks, M. (1985). X-RAY DIFFRACTION. STUDY OF POLYCRYSTALLINE SILICON LAYERS. Technische Hogeschool.
Citace podle Chicago (17th ed.)Hendriks, Menso. X-RAY DIFFRACTION. STUDY OF POLYCRYSTALLINE SILICON LAYERS. Delft: Technische Hogeschool, 1985.
Citace podle MLA (9th ed.)Hendriks, Menso. X-RAY DIFFRACTION. STUDY OF POLYCRYSTALLINE SILICON LAYERS. Technische Hogeschool, 1985.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..