Beeler, F. J. (1986). Berechnung der elektronischen Struktur tiefer Störstellen in Silizium. Universität.
Chicago Style (17th ed.) CitationBeeler, Franz Josef. Berechnung Der Elektronischen Struktur Tiefer Störstellen in Silizium. Stuttgart: Universität, 1986.
MLA (9th ed.) CitationBeeler, Franz Josef. Berechnung Der Elektronischen Struktur Tiefer Störstellen in Silizium. Universität, 1986.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.