Diagnostika v mikroelektronice. 1. díl /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: May, Jan
Format: Book
Language:Czech
Published: Praha : České vysoké učení technické v Praze, 1992
Edition:1. vyd.
Subjects:
mikroelektronika > meranie > elektrická metóda > optická metóda > radiačná analýza > obvod VLSI > vodivosť
ISBN:8001007782
Online Access: Get full text
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617155134.0
008 921209s1992 cs e ||||||cze d
020 |a 8001007782 
035 |a CVTIDW0905848 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a cze 
044 |a cs 
080 |a 621.382.049.77(075.8)  |2 UDC-MRF 
080 |a 621.317.3(075.8)  |2 UDC-MRF 
080 |a 543.5(075.8)  |2 UDC-MRF 
080 |a 543.4(075.8)  |2 UDC-MRF 
100 1 |a May, Jan 
245 1 0 |a Diagnostika v mikroelektronice. 1. díl /  |c Jan May 
250 |a 1. vyd. 
260 |a Praha :  |b České vysoké učení technické v Praze,  |c 1992 
300 |a 143 s. :  |b grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a mikroelektronika  |a meranie  |a elektrická metóda  |a optická metóda  |a radiačná analýza  |a obvod VLSI  |a vodivosť 
692 |a FR BA VD JM MM 
910 |b S533167 
919 |a 80-01-00778-2 
974 |f Knihy 
992 |a ASK 
999 |c 53774  |d 53774 

Similar Items