Andersson, M. O. (1991). Characterization and modeling of electrically active point defects in silicon/silicon dioxide structures. Chalmers Tekniska Högskola.
Citácia podle Chicago (17th ed.)Andersson, Mats O. Characterization and Modeling of Electrically Active Point Defects in Silicon/silicon Dioxide Structures. Göteborg: Chalmers Tekniska Högskola, 1991.
Citácia podľa MLA (8th ed.)Andersson, Mats O. Characterization and Modeling of Electrically Active Point Defects in Silicon/silicon Dioxide Structures. Chalmers Tekniska Högskola, 1991.
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..