ISMQC : 4th internat. symp. on dimensional metrology in production and quality control, Finland, June 22 - 25, 1992 /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Torvinen, Seppo J.
Korporativní autor: 4th internat. symp. on dimensional metrology in production and quality control Finland
Médium: Konferenční příspěvek Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Tampere : International Measurement Confederation, 1992
Vydání:1st ed.
Témata:
ISBN:9517218567
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617154734.0
008 921202s1992 fi e ||||||eng d
020 |a 9517218567 
035 |a CVTIDW0905627 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a fi 
080 |a 389:658.56  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Torvinen, Seppo J. 
111 0 |a 4th internat. symp. on dimensional metrology in production and quality control  |d (June 22 - 25, 1992 :  |c Finland) 
242 1 0 |a ISMQC. 4. medzinár. symp. rozmerovej metrológie vo výrobe a riadení kvality 
245 1 0 |a ISMQC :  |b 4th internat. symp. on dimensional metrology in production and quality control, Finland, June 22 - 25, 1992 /  |c Authors: Seppo J. Torvinen and Co. 
250 |a 1st ed. 
260 |a Tampere :  |b International Measurement Confederation,  |c 1992 
300 |a 420 s. :  |b fotogr., grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a systém expertný  |a veličina geometrická  |a signál  |a spracúvanie  |a robot  |a kalibrácia niterferometrická  |a systém merací laserovo-interferometrický  |a VLSI  |a mikroskop elektrónový 
692 |a HA VD PO MM 
910 |b A532640 
919 |a 951-721-856-7 
974 |f Knihy 
992 |a AZN 
999 |c 52879  |d 52879