QR-Code

The influence of process-induced defects on electrical properties of silicon junctions /

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Andersson, Gert Ingvar
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Göteborg : Chalmers Tekniska Högskola, 1992
Ausgabe:	1st ed.
Schriftenreihe:	Technical report No. 226
Schlagworte:	mikroelektronika > spektroskopia > vodivosť > defekt kryštálový
ISBN:	9170326754
Online-Zugang:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Ähnliche Einträge

Defects in silicon : Proceedings of symp. B on science and technology of the 1989 E-MRS conf., Strasbourg, France, 30 May - 2 June 1989 /
von: Chantre, A.
Veröffentlicht: (1989)

Konstruirovanije, izgotovlenije i primenenije kvarcevych rezonatorov /
von: Jaroslavskij, Michail Iosifovič, et al.
Veröffentlicht: (1971)

Electrical properties of gold-related defect complexes in silicon /
von: Sveinbjörnsson, Einar Örn
Veröffentlicht: (1994)

Barrier and interface properties of magnetic tunneling junctions studied via electrical transport /
von: Stein, Simon
Veröffentlicht: (2003)

SILICON '90. Vol. 2 : Proceedings of the internat. conf., Rožnov pod Radhošťěm, 5th - 9th Nov. 1990 /
von: Voronkov, V. V.
Veröffentlicht: (1990)

Characterization and modeling of electrically active point defects in silicon/silicon dioxide structures /
von: Andersson, Mats O.
Veröffentlicht: (1991)

555C++. Praktická příručka pro konstruktéry /
von: Kaválek, Jan
Veröffentlicht: (1996)

Kvalita vo zváraní s programovým zameraním na problematiku technických a právnych aspektov zabezpečenia kvality zvarkov a prostriedkov na zváranie : Zborník anotácií, 11. a 12. 10. 1995 /
von: Kálna, Karol 1934-
Veröffentlicht: (1995)

Technológia prípravy monokryštálov /
von: Růžička, Milan
Veröffentlicht: (2005)

Properties and processing of materials /
von: Bouda, Václav
Veröffentlicht: (1999)

C60-dotierte Phthalocyanine. Verbesserte Photoleitung durch lichtinduzierten Ladungstransfer /
von: Morenzin, Jan
Veröffentlicht: (1999)

Applied Physics of Condensed Matter : APCOM 2013 ; proceedings of the 19th International Conference ; hotel Patria, Štrbské Pleso, Slovak Republic, June 19 - 21, 2013 /
Veröffentlicht: (2013)

Silicon nitride in electronics /
von: Belyi, Vladimir Ivanovich
Veröffentlicht: (1988)

Zprávy o geologických výzkumech v roce 1989 /
von: Adamová, Marie
Veröffentlicht: (1991)

Vysokofrekvenční měření /
von: Horevaj, Michal
Veröffentlicht: (2002)

Applied physics of condensed matter : APCOM 2018 ; book of abstracts ; proceedings of the 24th international conference ; hotel Patria, Štrbské Pleso, Slovak Republic, June 20 - 22, 2018 /
Veröffentlicht: (2018)

Applied physics of condensed matter : APCOM 2017 ; proceedings of the 23rd international conference ; hotel Patria, Štrbské Pleso, Slovak Republic, June 12 - 14, 2017 /
Veröffentlicht: (2017)

Applied physics of condensed matter : APCOM 2019 ; book of abstracts ; proceedings of the 25th international conference ; hotel Patria, Štrbské Pleso, Slovak Republic, June 19 - 21, 2019 /
Veröffentlicht: (2019)

Defect minimisation in silicon carbide, silicon nitride and alumina ceramics /
von: Carlström, Elis
Veröffentlicht: (1989)

Ion beam induced crystallization in silicon /
von: Linnros, Jan
Veröffentlicht: (1985)

Conduction of electricity through gases.
von: Thomson, J. J., et al.
Veröffentlicht: (1969)

Crystallization of isotactic polypropylene. The influence of stereo-defects /
von: Burgt, Frank Peter Theodorus Johannes van der
Veröffentlicht: (2002)

Effect of firing process on properties of brick body with organic combustible admixture : mathematical correlations between properties of brick body /
von: Šveda, Mikuláš
Veröffentlicht: (2005)

On the development of a fast and accurate bridging fault simulator /
von: Di, Chennian
Veröffentlicht: (1994)

The real structure of high-Tc superconductors /
von: Schekhtman, Veniamin Sh
Veröffentlicht: (1993)

High rate plasma deposition of silicon oxide like films /
von: Hest, Marinus Franciscus Antonius Maria van
Veröffentlicht: (2002)

Polycrystalline silicon / monocrystalline silicon junctions and their application as passiveted contacts for Si solar cells /
von: Römer, Udo 1984-
Veröffentlicht: (2015)

ELEKTRO '97. Section: Electric traction, electroenergetics, electric drivers and power electronics : 2nd internat. scientific conf., June 23 - 24, 1997 /
von: Dodds, Stephen J.
Veröffentlicht: (1997)

Elektroprovodjaščije chimičeskije volokna /
von: Levit, Rafail Michelevič
Veröffentlicht: (1986)

Properties of atomic defects in metals /
von: Peterson, N. L.
Veröffentlicht: (1978)

Mesoscopic phenomena in metallic point contacts /
von: Holweg, Philippus Antonius Maria
Veröffentlicht: (1992)

Phase transformations during irradiation /
von: Wiedersich, H.
Veröffentlicht: (1983)

Diagnostika v mikroelektronice. 1. díl /
von: May, Jan
Veröffentlicht: (1992)

Dielectric and conductivity studies of polymer electrolytes /
von: Albinsson, Ingvar
Veröffentlicht: (1994)

IEE review : the journal of the institution of electrical engineers

Propagation in systems far from equilibrium : Proceedings of the workshop, Les Houches, France, March 10 - 18, 1987 /
von: Wesfreid, José E.
Veröffentlicht: (1988)

Vnútorné tlmenie materiálov /
von: Puškár, Anton 1948-
Veröffentlicht: (1995)

The structure and properties of crystal defects : proceedings of the Symposium on the Structure and Properties of Crystal Defects, Liblice, Czechoslovakia, June 13 - 17, 1983 /
von: Kroupa, F.
Veröffentlicht: (1984)

Vysokotemperaturnyje issledovanija teplo- i elektroprovodnosti tverdych tel /
von: Peleckij, Vladislav Eduardovič, et al.
Veröffentlicht: (1971)

The influence of aluminium and silicon on the reaction between iron and zinc /
von: Osinski, Kazimierz
Veröffentlicht: (1983)