Defect recognition and image processing im 3-5 compounds : DRIP 1985, Montpellier, France, July 2 - 4, 1985 /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Korporativní autor: | |
| Médium: | Konferenční příspěvek Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Amsterdam :
Elsevier,
1985
|
| Edice: | Materials science monographs
Vol. 31 |
| Témata: | |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 003 | SK-BrCVT | ||
| 005 | 20220617153649.0 | ||
| 008 | 880101s1985 ne e ||||||eng d | ||
| 035 | |a CVTIDW0904642 | ||
| 040 | |b slo |a CVTI SR | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 044 | |a ne | ||
| 080 | |a 681.518.54 |2 UDC-MRF | ||
| 080 | |a 669.018.9:620.19 |2 UDC-MRF | ||
| 100 | 1 | |a Ogawa, Tomoya | |
| 111 | 0 | |a DRIP 1985 |d (July 2 - 4, 1985 : |c France, Montpellier) | |
| 242 | 1 | 0 | |a Rozoznávanie defektov a spracúvanie obrazu v 3 - 5 zmesiach |
| 245 | 1 | 0 | |a Defect recognition and image processing im 3-5 compounds : |b DRIP 1985, Montpellier, France, July 2 - 4, 1985 / |c Authors: Tomoya Ogawa and Co. |
| 260 | |a Amsterdam : |b Elsevier, |c 1985 | ||
| 300 | |a 12, 306 s. | ||
| 490 | 0 | |a Materials science monographs |v Vol. 31 | |
| 653 | 1 | |a metalurgia | |
| 692 | |a LN MM | ||
| 760 | 1 | |t Materials science monographs |g Vol. 31 | |
| 910 | |b A475755 | ||
| 974 | |f Knihy | ||
| 992 | |a AZN | ||
| 999 | |c 50633 |d 50633 | ||