Citace podle APA (7th ed.)

Ogawa, T. (1985). Defect recognition and image processing im 3-5 compounds: DRIP 1985, Montpellier, France, July 2 - 4, 1985. Elsevier.

Citace podle Chicago (17th ed.)

Ogawa, Tomoya. Defect Recognition and Image Processing Im 3-5 Compounds: DRIP 1985, Montpellier, France, July 2 - 4, 1985. Amsterdam: Elsevier, 1985.

Citace podle MLA (9th ed.)

Ogawa, Tomoya. Defect Recognition and Image Processing Im 3-5 Compounds: DRIP 1985, Montpellier, France, July 2 - 4, 1985. Elsevier, 1985.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..