Untersuchung von Yttrium und Scandium in MIS-Systemen mit der Photoelektronenspektroskopie und der Sekundärionenmassenspektroskopie /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Diplomová práce Kniha |
| Jazyk: | němčina |
| Vydáno: |
Tübingen :
Eberhard-Karls-Universität,
1986
|
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 003 | SK-BrCVT | ||
| 005 | 20220617153143.0 | ||
| 008 | 880101s1986 gw e ||||||ger d | ||
| 035 | |a CVTIDW0904003 | ||
| 040 | |b slo |a CVTI SR |e AACR2 | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 044 | |a gw | ||
| 080 | |a 546.641 |2 UDC-MRF | ||
| 080 | |a 546.631 |2 UDC-MRF | ||
| 080 | |a 543.42 |2 UDC-MRF | ||
| 080 | |a 543.6:621.315.62:621.315.592 |2 UDC-MRF | ||
| 100 | 1 | |a Reichl, Rudolf | |
| 242 | 1 | 0 | |a Výskum ytria a skandia v systémoch MIS (metal-insulator-semiconductor) pomocou fotoelektrónovej spektroskopie a sekundárnej iónovej hmotnostnej spektroskopie |
| 245 | 1 | 0 | |a Untersuchung von Yttrium und Scandium in MIS-Systemen mit der Photoelektronenspektroskopie und der Sekundärionenmassenspektroskopie / |c Rudolf Reichl |
| 260 | |a Tübingen : |b Eberhard-Karls-Universität, |c 1986 | ||
| 300 | |a 133 s. : |b grafy, lit., obr., tab. ; | ||
| 502 | |d 8. 12. 1986 | ||
| 692 | |a PO MM | ||
| 910 | |b A477167 | ||
| 974 | |f Knihy | ||
| 992 | |a DDZ | ||
| 999 | |c 49627 |d 49627 | ||