Reichl, R. (1986). Untersuchung von Yttrium und Scandium in MIS-Systemen mit der Photoelektronenspektroskopie und der Sekundärionenmassenspektroskopie. Eberhard-Karls-Universität.
Chicago Style (17th ed.) CitationReichl, Rudolf. Untersuchung Von Yttrium Und Scandium in MIS-Systemen Mit Der Photoelektronenspektroskopie Und Der Sekundärionenmassenspektroskopie. Tübingen: Eberhard-Karls-Universität, 1986.
MLA (9th ed.) CitationReichl, Rudolf. Untersuchung Von Yttrium Und Scandium in MIS-Systemen Mit Der Photoelektronenspektroskopie Und Der Sekundärionenmassenspektroskopie. Eberhard-Karls-Universität, 1986.
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