Applications of electron microfractography to materials research : 73rd Annual Meeting, Toronto, Ontario, Canada, 21 - 26 June 1970 /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Brothers, A. J.
Körperschaft: 73rd Annual Meeting Canada, Toronto, Ontario
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Philadelphia : American Society for Testing and Materials, 1971
Schriftenreihe:ASTM Special Technical Publ. Nr. 493
Online-Zugang: Volltext
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MARC

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