Surface analysis by low-energy ion scattering. Two-dimensional detection and quantification /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Diplomová práce Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Eindhoven :
Technická univerzita,
1990
|
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 003 | SK-BrCVT | ||
| 005 | 20220617141531.0 | ||
| 008 | 910401s1990 ne e ||||||eng d | ||
| 035 | |a CVTIDW0890018 | ||
| 040 | |b slo |a CVTI SR | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 044 | |a ne | ||
| 080 | |a 543.42:539.211(043.3) |2 UDC-MRF | ||
| 100 | 1 | |a Ackermans, Paul Anton Josef | |
| 242 | 1 | 0 | |a Analýza povrchov nízkoenergetickými iónovým rozptylom. Dvojrozmerná detekcia a kvantifikácia |
| 245 | 1 | 0 | |a Surface analysis by low-energy ion scattering. Two-dimensional detection and quantification / |c Paul Anton Josef Ackermans |
| 260 | |a Eindhoven : |b Technická univerzita, |c 1990 | ||
| 300 | |a 107 s. : |b grafy, lit., obr., tab. ; | ||
| 500 | |a Res. angl. a hol. | ||
| 502 | |d 25. 9. 1990 | ||
| 692 | |a PO MM | ||
| 910 | |b A522882 | ||
| 974 | |f Knihy | ||
| 992 | |a DDZ | ||
| 999 | |c 36288 |d 36288 | ||