Surface analysis by low-energy ion scattering. Two-dimensional detection and quantification /
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| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Eindhoven :
Technická univerzita,
1990
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| Beschreibung: | Res. angl. a hol. |
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| Beschreibung: | 107 s. : grafy, lit., obr., tab. ; |