Ackermans, P. A. J. (1990). Surface analysis by low-energy ion scattering. Two-dimensional detection and quantification. Technická univerzita.
Citace podle Chicago (17th ed.)Ackermans, Paul Anton Josef. Surface Analysis by Low-energy Ion Scattering. Two-dimensional Detection and Quantification. Eindhoven: Technická univerzita, 1990.
Citace podle MLA (9th ed.)Ackermans, Paul Anton Josef. Surface Analysis by Low-energy Ion Scattering. Two-dimensional Detection and Quantification. Technická univerzita, 1990.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..