A voltage contrast detector with double channel energy analyzer in a scanning electron microscope /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | Dubbeldam, Luc |
|---|---|
| Médium: | Diplomová práce Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Delft :
Technická univerzita,
1989
|
| ISBN: | 9062755682 |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky
Načítá se…
Theory of inelastic tunneling. Applications to double-barrier structures and scanning tunneling microscopes /
Autor: Johansson, Peter
Vydáno: (1991)
Autor: Johansson, Peter
Vydáno: (1991)
Načítá se…
Voltage Gated Sodium Channels
Vydáno: (2014)
Vydáno: (2014)
Načítá se…
Electron optics and the electron microscope /
Autor: Zworykin, Vladimir K.
Vydáno: (1945)
Autor: Zworykin, Vladimir K.
Vydáno: (1945)
Načítá se…
Voltage-gated Sodium Channels: Structure, Function and Channelopathies
Vydáno: (2018)
Vydáno: (2018)
Načítá se…
Double-Prism Multi-mode Scanning: Principles and Technology
Autor: Li, Anhu
Vydáno: (2018)
Autor: Li, Anhu
Vydáno: (2018)
Načítá se…
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY /
Autor: Reimer, Ludwig
Vydáno: (1985)
Autor: Reimer, Ludwig
Vydáno: (1985)
Načítá se…
Autotuning of a transmission electron microscope /
Autor: Koster, Abraham Johannes
Vydáno: (1989)
Autor: Koster, Abraham Johannes
Vydáno: (1989)
Načítá se…
Physics with Electrons in the ATLAS Detector
Autor: Brendlinger, Kurt
Vydáno: (2018)
Autor: Brendlinger, Kurt
Vydáno: (2018)
Načítá se…
Microscope
Načítá se…
X-ray microanalysis in the electron microscope /
Autor: Chandler, John A.
Vydáno: (1977)
Autor: Chandler, John A.
Vydáno: (1977)
Načítá se…
Tissue characterization techniques using a 100 MHz scanning laser acoustic microscope /
Autor: Tervola, Kalervo
Vydáno: (1985)
Autor: Tervola, Kalervo
Vydáno: (1985)
Načítá se…
Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis /
Vydáno: (1975)
Vydáno: (1975)
Načítá se…
Typical electron microscope investigations. Monograph 4 /
Autor: Edington, J. W.
Vydáno: (1976)
Autor: Edington, J. W.
Vydáno: (1976)
Načítá se…
Electron microscopical characterisation of interfaces in SOFC materials /
Autor: Clausen, Charlotte
Vydáno: (1992)
Autor: Clausen, Charlotte
Vydáno: (1992)
Načítá se…
A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Autor: Ul-Hamid, Anwar
Vydáno: (2018)
Autor: Ul-Hamid, Anwar
Vydáno: (2018)
Načítá se…
Scattering by objects with electric contrast /
Autor: Zwamborn, Adrianus Petrus Maria
Vydáno: (1991)
Autor: Zwamborn, Adrianus Petrus Maria
Vydáno: (1991)
Načítá se…
Colour contrast in metallographic microscopy /
Autor: Skočovský, Petr
Vydáno: (1993)
Autor: Skočovský, Petr
Vydáno: (1993)
Načítá se…
High-voltage aspects of the free electron maser /
Autor: Wouters, P. A. A. F.
Vydáno: (1997)
Autor: Wouters, P. A. A. F.
Vydáno: (1997)
Načítá se…
Semiconductor detectors /
Vydáno: (1968)
Vydáno: (1968)
Načítá se…
Infrared detectors /
Autor: Putley, E. H.
Vydáno: (1975)
Autor: Putley, E. H.
Vydáno: (1975)
Načítá se…
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor: Goldstein, Joseph I.
Vydáno: (2018)
Autor: Goldstein, Joseph I.
Vydáno: (2018)
Načítá se…
Les contrastes de la couleur /
Autor: Marx, Ellen
Vydáno: (1972)
Autor: Marx, Ellen
Vydáno: (1972)
Načítá se…
Quantification of Contrast Kinetics in Clinical Imaging
Autor: Mischi, Massimo
Vydáno: (2018)
Autor: Mischi, Massimo
Vydáno: (2018)
Načítá se…
Contrast-Enhanced Digital Mammography (CEDM)
Vydáno: (2018)
Vydáno: (2018)
Načítá se…
Microscopic theory of the nucleus /
Autor: Eisenberg, Judah M. 1933-
Vydáno: (1976)
Autor: Eisenberg, Judah M. 1933-
Vydáno: (1976)
Načítá se…
Microscopic techniques in biotechnology /
Autor: Hoppert, Michael
Vydáno: (2003)
Autor: Hoppert, Michael
Vydáno: (2003)
Načítá se…
Video Measuring Microscopes
Vydáno: (2013)
Vydáno: (2013)
Načítá se…
Field Emission Scanning Electron Microscopy New Perspectives for Materials Characterization /
Autor: Brodusch, Nicolas
Vydáno: (2018)
Autor: Brodusch, Nicolas
Vydáno: (2018)
Načítá se…
X-Ray Contrast Media OVERVIEW, USE AND PHARMACEUTICAL ASPECTS /
Autor: Speck, Ulrich
Vydáno: (2018)
Autor: Speck, Ulrich
Vydáno: (2018)
Načítá se…
ScanCONTROL.
Vydáno: (2011)
Vydáno: (2011)
Načítá se…
DuraScan.
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Načítá se…
ScanControl
Vydáno: (2013)
Vydáno: (2013)
Načítá se…
THE SILICON MICROSTRIP DETECTOR /
Autor: Kate, Warner Rudolph Theophile Ten
Vydáno: (1987)
Autor: Kate, Warner Rudolph Theophile Ten
Vydáno: (1987)
Načítá se…
Semiconductor particle detectors /
Autor: Taylor, J. M.
Vydáno: (1963)
Autor: Taylor, J. M.
Vydáno: (1963)
Načítá se…
RELATIVISTIC CHANNELING /
Autor: Uggerhoj, E.
Vydáno: (1987)
Autor: Uggerhoj, E.
Vydáno: (1987)
Načítá se…
SPATIAL CHARACTERISTICS OF BRIGHTNESS AND APPARENT-CONTRAST PERCEPTION /
Autor: Buf, Johannes Martinus Hubertina Du
Vydáno: (1987)
Autor: Buf, Johannes Martinus Hubertina Du
Vydáno: (1987)
Podobné jednotky
-
Theory of inelastic tunneling. Applications to double-barrier structures and scanning tunneling microscopes /
Autor: Johansson, Peter
Vydáno: (1991) -
Voltage Gated Sodium Channels
Vydáno: (2014) -
Electron optics and the electron microscope /
Autor: Zworykin, Vladimir K.
Vydáno: (1945) -
Voltage-gated Sodium Channels: Structure, Function and Channelopathies
Vydáno: (2018) -
Double-Prism Multi-mode Scanning: Principles and Technology
Autor: Li, Anhu
Vydáno: (2018)

