X-ray reflectivity of a 200 layer W.25Si.75 multilayer crystal /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Als-Nielsen, J.
Other Authors: Grey, F.
Format: Book
Language:English
Published: Roskilde : RISO National Laboratory, 1990
Series:RISO-M-2846
ISBN:8755016057
ISSN:0418-6435
Online Access: Get full text
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617125203.0
008 880101s1990 dk e ||||||eng d
020 |a 8755016057 
022 |a 0418-6435 
035 |a CVTIDW0880511 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a dk 
080 |a 548.734  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Als-Nielsen, J. 
242 1 0 |a Röntgenová odrazivosť 200 vrstvového W.25Si.75 viacvrstvového kryštálu 
245 1 0 |a X-ray reflectivity of a 200 layer W.25Si.75 multilayer crystal /  |c J. Als-Nielsen, F. Grey 
260 |a Roskilde :  |b RISO National Laboratory,  |c 1990 
300 |a 20 s., príl. :  |b lit., obr. ; 
490 0 |a RISO-M-2846 
692 |a JM MM 
700 1 |a Grey, F. 
760 1 |t RISO-M-2846 
910 |b A514677 
919 |a 87-550-1605-7 
974 |f Knihy 
992 |a APP 
999 |c 28409  |d 28409