Als-Nielsen, J., & Grey, F. (1990). X-ray reflectivity of a 200 layer W.25Si.75 multilayer crystal. RISO National Laboratory.
Citace podle Chicago (17th ed.)Als-Nielsen, J., a F. Grey. X-ray Reflectivity of a 200 Layer W.25Si.75 Multilayer Crystal. Roskilde: RISO National Laboratory, 1990.
Citace podle MLA (9th ed.)Als-Nielsen, J., a F. Grey. X-ray Reflectivity of a 200 Layer W.25Si.75 Multilayer Crystal. RISO National Laboratory, 1990.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..