Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensiv...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Lienig, Jens (Autor)
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Cham : Springer International Publishing, 2018.
Vydání:1st ed. 2018.
Témata:
ISBN:9783319735580
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Obsah:
  • Introduction
  • Fundamentals of Electromigration
  • Integrated Circuit Design and Electromigration
  • Mitigating Electromigration in Physical Design
  • Summary and Outlook.