Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensiv...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Lienig, Jens (Autor)
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Cham : Springer International Publishing, 2018.
Vydání:1st ed. 2018.
Témata:
ISBN:9783319735580
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Internet

Získat plný text

CVTI internet

Informace o exemplářích z: CVTI internet
Signatura: ZE06823
Jednotka On Shelf