Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy SPM Applications for Nanometrology; A volume in Micro and Nano Technologies

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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:Slowakisch
Veröffentlicht: : Elsevier, 2013
Schlagworte:
ISBN:9781455730582
Online-Zugang: Volltext
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